מנתח הספקטרוםהוא כלי רב עוצמה לביצוע מדידות רעש. באופן כללי, מנתחי ספקטרום יכולים להציג את היחס בין הספק (או מתח) לתדר, הדומה לעקומת צפיפות ספקטרלי הרעש. למעשה, לחלק ממנתחי הספקטרום יש מצב פעולה מיוחד המאפשר הצגת תוצאות המדידה ישירות ביחידות צפיפות ספקטרלית (כלומר nV/rt-Hz). במקרים אחרים, יש להכפיל את תוצאת המדידה בגורם תיקון כדי להמיר את יחידת המידה הרלוונטית ליחידות צפיפות ספקטרלית.
מנתחי ספקטרום, כמואוסילוסקופים, הן דיגיטליות והן אנלוגיות. שיטה אחת ליצירת עקומה ספקטרלית על ידי אנלוגימנתח ספקטרוםהוא לטאטא מסנן פס-פס בתדרים שונים תוך התוויית ערך המוצא הנמדד של המסנן. גישה נוספת היא שימוש בקליטת superheterodyne, המבצעת סריקה של המתנד המקומי בתדרים שונים. עם זאת, מנתחי ספקטרום דיגיטליים משתמשים בטרנספורמציות פורייה מהירות כדי ליצור את הספקטרום (לרוב נעשה שימוש בטכנולוגיית קבלת superheterodyne).
למרות שמנתחי הספקטרום המשמשים הם מדגמים שונים, עדיין יש לקחת בחשבון כמה פרמטרים עיקריים. תדרי ההתחלה והעצירה מציינים את טווח התדרים שמעליו נסרק מסנן מעבר הפס. רוחב הפס של הרזולוציה הוא הרוחב של מסנן מעבר הפס שנסרק בטווח התדרים. הפחתת רוחב הפס של הרזולוציה תגדיל את יכולתו של מנתח הספקטרום לעבד אותות בתדרים נפרדים תוך הארכת זמן הסריקה. איור 1 מציג את פעולת מסנן הסריקה. איור 2 ואיור 3 מציגים את התוצאות המתקבלות כאשר אותו מנתח ספקטרום משתמש ברוחב פס של רזולוציה שונה. באיור 2, מכיוון שרוחב הפס של הרזולוציה מוגדר קטן מאוד, רכיבי תדר בדידים (כלומר, 150 הרץ) מטופלים כראוי. מצד שני, באיור 3, רכיב התדר הבדיד (כלומר, 1200 הרץ) לא טופל כראוי מכיוון שרוחב הפס של הרזולוציה מוגדר להיות גדול מאוד.
איור 1.
איור 2.
איור 3.
